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商品描述：
规格参数
规格参数
商品货号：
MN-1748230026
商品品牌：
TedPella
商品重量：
100克
上架时间：
2025-05-26
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AFM/SPM探针
轻敲模式 >
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标准轻敲（Hard Sample，air/vacuum)
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软轻敲（Soft Sample，air/vacuum)
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液相针尖（Life science，liquid/Buffer)
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超细针尖
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高长径比针尖
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多悬臂针尖
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Seiko轻敲模式针尖
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UHV高真空针尖
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标准接触模式针尖
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Seiko接触模式针尖
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氮化硅Tipless针尖
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小球针尖
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表面化学修饰探针
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单悬臂硅针尖
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多悬臂硅针尖
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复合多模式多悬臂针尖 >
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Mikromasch
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Budgetsensors
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Opus/Olympus
Top Visual前倾针尖 >
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轻敲可视化针尖
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镀Au针尖
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超细Co-Cr针尖
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纳米压痕针尖
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全金刚石针尖
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镀金刚石导电针尖
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镀金刚石针尖
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镀类金刚石针尖
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全类金刚石针尖
类金刚石/碳纳米管/高分辨/3D计量 >
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全类金刚石/轻敲/软轻敲/快扫
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全类金刚石/高纵横比/超细
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碳纳米管针尖
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全类金刚石/3D CD计量
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全类金刚石/定制
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导电系列
生物科学应用针尖 >
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氮化硅针尖
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双面镀金氮化硅针尖
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类石英生物针尖
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类金刚石针尖
自感应针尖 >
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Akiyama-Probe
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自感应硅针尖
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自感应Tipless探针
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自感应SCD针尖
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自感应套件Self-Sensing St
特殊探针 >
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SNOM针尖
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TERS针尖
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SThM探针
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SMIM探针
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keysight/Agilent探针
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电子显微镜配件耗材
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方孔
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JEOL柱型样品台
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Hitachi柱型样品台M4螺孔
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碳/石墨样品台
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分区样品台
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KLA纳米压痕样品台
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光阑清洁
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光学显微镜配件耗材
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透射电镜
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特殊窗口
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SiC碳化硅薄膜窗口
校准标样 AFM/STM >
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AFM/STM标样
测试样品 >
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AFM测试样品
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TERS测试样品
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SNOM测试样品
基底 >
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AFM/STM 基底
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玻碳电极
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2D材料
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聚合物薄膜
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表面化学修饰
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云母
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金属基底
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高序石墨
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硅片基底
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AFM样品台
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玻璃基底
电镜校正标准样品 >
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扫描电镜标样
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透射电镜标样
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元素分析标样
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微米球
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FIB标样
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计算指南
轮廓仪校准标样 >
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光学轮廓仪校准标样
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台阶仪校准标样
单壁碳纳米管 >
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单壁碳纳米管
材料/生物制样用品
粘连用品 >
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导电胶 | 稀释剂
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其他 >
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二维半导体
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二维反铁磁绝缘体
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便携式AFM
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教学型AFM
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工业级AFM
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SThM扫描热学显微镜
AFM-光学 >
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维修
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AFM升级
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阳极氧化铝各向同性膜
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涂层镊子
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特殊材质镊子
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真空镊子
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SERS芯片基底
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防静电腕带
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数字源表
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数字光衰减器
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大样品AFM原子力显微镜
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生物型AFM原子力显微镜
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扫描热学原子力显微镜
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扫描微波阻抗原子力显微镜
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探针式轮廓仪P系列台阶仪
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光学轮廓仪Zeta系列光学轮廓仪
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光学轮廓仪白光干涉仪
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膜厚仪单点厚度测量
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膜厚仪微米（显微）级光斑尺度厚度测量
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膜厚仪自动厚度测量系统
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膜厚仪在线厚度测量系统
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膜厚仪椭偏仪
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膜厚仪棱镜耦合仪
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表面等离子共振仪共振仪
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表面缺陷检测仪
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晶圆拉曼光谱测试系统
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力学表征 >
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微纳米拉伸仪
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探针台手动探针台
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半自动探针台
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频率计数器分析仪
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分析仪配件
In-Situ原位测试 >
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In-SEM纳米压痕
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微纳加工 >
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纳米压印机
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PVT碳化硅SiC长晶设备
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金刚石长晶设备
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等离子清洗机
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紫外臭氧清洗机
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隔音隔震主动隔震台
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视频显微镜
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金相显微镜
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化学实验耗材 >
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温度传感器
物理(电学)实验耗材 >
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