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Talos F200S 透射电子显微镜测试(请咨询客服)
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商品描述:

规格参数

 

◼ 主要用途

Talos F200S 透射电子显微镜

1. 微结构解析,包括获得材料微区的形貌、晶体结构、元素组成等.
2. 磁结构观察,即磁性材料中磁畴的形态、种类,外加磁场下磁畴的演变过程. 3. 温度、磁场等作用下,材料的微结构、磁结构的动态响应过程观察.

◼ 实例

高水平发表论文

Adv. Mater.2022, 2203503
Adv. Fun. Mater. 2021, 2109529;2022, 202112956; 2022, 2205880
Angew. Chem. Int. Edt 2022, 202201323 Nat. Sci. Rev. 2022, nwac041
Acta Mater. 2022, 117873; 2022, 118338
J. Mater. Sci. Tech. 2023, 54-64 Materials Today Nano 2022, 100230......

◼ 主要参数和特点

        1. 热场发射电子枪,加速电压 200kV,HRTEM最大放大倍率105万倍,信息分辨率0.12nm;STEM分辨率0.16nm

  1. 配置洛伦兹透镜,保证在无场环境下对磁性样品的观察,洛伦兹模式下点分辨小于2.5nm.

  2. 配备多分割式STEM探头与实时DPC/iDPC成像模块,可用于轻重元素同时成像以及样品电、 磁等内势场的研究.

  3. 原位加磁场测试,垂直方向磁场(0-1T);原位温度杆(高温双倾杆:室温-900°C;冷电 单倾杆:95K-300K,交直流均可,0-100mA)

规格参数
  • 商品货号: MN_20230601_03
  • 商品品牌: 进口
  • 商品重量: 0克
  • 上架时间: 2023-06-01
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