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SPI单面铝导电胶带
SPI单面铝导电胶带
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￥249
经销商：
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总销售量:92件
材质：
铝
类别：
单面
规格：
50.8mm*45.7m
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X-ray应用氮化硅窗口,外框5*5mm,窗口0.5*0.5mm-2.5*2.5mm,膜厚50-200nm,TEMwindows
X-ray应用氮化硅窗口,外框5*5mm,窗口1*1mm,膜厚50-500nm ,Norcada
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京东E卡经典卡 购物卡/电子卡 100元（可用积分兑换）
X-ray应用氮化硅窗口,外框5*5mm,窗口0.15*0.15mm-0.25*0.25mm,膜厚30-1000nm ,Norcada
HQ:NSC16/AlBS轻敲,45N/M,Mikromasch,HQ:NSC16/NoAL
XNC12/Cr-Au BS,氮化硅针尖三角形悬臂,多参数,Au,Mikromasch
PPP-MFMR/PPP-QLC-MFMR,磁性针尖,Co-Cr,2.8N/M,Nanosensors
Tedpella高精度弯头镊子,非磁性不锈钢
Tedpella AFM探针镊子
Tedpella类金刚石镀层弯头镊子,非磁性不锈钢
Tedpella高精度直头镊子,非磁性不锈钢
Scotch 666双面胶带
Scotch 665双面胶带
Zeiss/LEO/FEI/Tescan Ø18mm Pin型SEMClip™样品台
45°/90° Pin型样品台（Zeiss，LEO）Ø12.7mm,Al
45°/90° Pin型样品台（FEI，Tescan,Zeiss）Ø12.7mm,Al
70°Pin型样品台（FEI，Tescan,Zeiss）Ø12.7mm,Al
扫描电镜用样品盒,钉形
Zeiss/LEO/FEI/Tescan Pin角度型SEMClip™样品台
扫描电镜钉形样品台存储盒，进口、单枚装φ12.7mm样品台
国产200目坐标载网碳支持膜
Pin型样品台（FEI，Tescan，Zeiss）Ø12.7mm/Ø9.6mm/Ø18mm/Ø25.4mm ,Al
TEM应用氮化硅单窗口,外框3*3mm,窗口 0.025*0.025-1*1mm,膜厚5-50nm,TEMwindows
SHS系列台阶标样, 1um, Appnano NANULER
Tap300GD-G轻敲模式针尖,40N/M,Au,Budgetsensors
SiNi,氮化硅针尖三角形悬臂,多参数,Au,Budgetsensors
高放大倍率标样,锡球-碳网格
3M™ 666双面 UVPVC载体+PE衬垫胶带
3M™ 465双面丙烯酸胶带
单面铝导电胶带
双面碳导电胶带（铝基材）
国产双联载网碳支持膜 磁性样品
日本Kenko 肯高便携显微镜STV-120m WSA（可用积分兑换）
忆捷（EAGET）512GB Type-c USB3.1移动硬盘 固态（PSSD）M1 读速高达500MB/s 仅重50g
SPI-Swiss高精度镊子套件：00、2A、3C、5和7型，抗磁
SiC/0.75，SiC/1.5 原子层原子台阶标样 STEP 0.75nm/1.5nm NT-MDT
商品描述：
规格参数
规格参数
商品货号：
C010228-01
商品品牌：
SPI
商品重量：
100克
上架时间：
2017-12-01
浏览历史
所有分类
SPM探针
轻敲模式 >
|
标准轻敲（Hard Sample，air/vacuum)
|
软轻敲（Soft Sample，air/vacuum)
|
液相针尖（Life science，liquid/Buffer)
|
超细针尖
|
高长径比针尖
|
多悬臂针尖
|
Seiko轻敲模式针尖
|
UHV高真空针尖
|
横向力模式
接触模式 >
|
标准接触模式针尖
|
超细接触模式超细针尖
|
Seiko接触模式针尖
力学测试针尖/Tipless针尖 >
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Tipless硅针尖
|
氮化硅Tipless针尖
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Plateau针尖
|
小球针尖
|
Tipless类石英悬臂
|
表面化学修饰探针
快速扫描FastScan >
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单悬臂硅针尖
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多悬臂硅针尖
|
HDC/DLC针尖 类石英悬臂
复合多模式多悬臂针尖 >
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Mikromasch
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Budgetsensors
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Opus/Olympus
Top Visual前倾针尖 >
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导电可视化针尖
|
轻敲可视化针尖
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接触可视化针尖
|
快速扫描可视化针尖
导电针尖KPFM/EFM/C-AFM/PFM/SCM >
|
全Pt/PtIr金属针尖
|
镀Pt针尖
|
镀Au针尖
|
镀TiN针尖
|
镀W2C+针尖
|
镀PtSi针尖
|
镀Ti/Ir针尖
磁力针尖 >
|
镀Co-Cr针尖
|
超细Co-Cr针尖
|
镀Co-Fe针尖
金刚石针尖/压痕/摩擦/导电 >
|
纳米压痕针尖
|
全金刚石导电针尖
|
全金刚石针尖
|
镀金刚石导电针尖
|
镀金刚石针尖
|
镀类金刚石针尖
|
全类金刚石针尖
碳纳米管针尖 >
|
FN系列
|
导电系列
|
TN-HAR系列
|
FG系列
|
MET系列
|
aCNT系列
生物科学应用针尖 >
|
氮化硅针尖
|
双面镀金氮化硅针尖
|
类石英生物针尖
|
类金刚石针尖
自感应针尖 >
|
Akiyama-Probe
|
自感应硅针尖
|
自感应Tipless探针
|
自感应SCD针尖
|
自感应套件Self-Sensing St
SNOM/TERS针尖 >
|
SNOM针尖
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TERS针尖
SThM针尖 >
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SThM探针
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SMIM探针
keysight/Agilent探针 >
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keysight/Agilent探针
Park探针（带针托） >
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Park探针(带针托)
电子显微镜配件耗材
碳支持膜 >
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多目
纯碳支持膜 >
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纯碳
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薄纯碳
无碳支持膜 >
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无碳方华膜
多孔/微栅支持膜 >
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Quantifoil多孔支持膜
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纯碳微栅支持膜
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C-flat多孔纯碳支持膜
|
微栅支持膜
特殊支持膜 >
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石墨烯/氧化石墨烯膜
多孔载网 >
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圆孔
|
方孔
特型载网 >
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坐标载网
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平行载网
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双联载网
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聚焦离子束载网
单孔载网 >
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单孔环（圆孔）
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椭圆环（狭缝）
样品台 >
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Pin型样品台 Zeiss|LEO|FEI|Tescan|VolumeScope
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JEOL柱型样品台
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Hitachi柱型样品台M4螺孔
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碳/石墨样品台
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SEMClip™样品台
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分区样品台
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KLA纳米压痕样品台
电镜零配件 >
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电镜灯丝
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电镜光阑
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光阑清洁
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闪烁体
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荧光屏
光学显微镜配件耗材 >
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光学显微镜配件耗材
其他电镜耗材 >
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砂纸
TEM Grid 支架 >
FIB配件耗材 >
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FIB载网
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FIB钨针
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FIB样品盒
测试服务
电镜-影像中心 >
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扫描电镜
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原子力显微镜
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透射电镜
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分子影像分析
力学测试 >
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压痕测试
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拉伸测试
表面与性能分析平台 >
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膜厚测试
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表面测试
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表面化学分析
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X射线衍射测试
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磁学电学测量
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热分析
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孔隙度和粒度分析
微纳加工 >
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纳米压印
半导体的检测与分析 >
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半导体的高分辨X射线衍射
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光学性质检测分析
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表面和薄膜成分分析
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SPM与半导体
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TEM与半导体
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磁学电学性能检测及其他
基底/样品/校准标样
氮化硅薄膜窗口 >
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TEM应用氮化硅窗口
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纳米孔系列
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TEM应用氧化硅窗口
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TEM纯硅窗口
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X-ray应用氮化硅窗口
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X-ray应用氧化硅窗口
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高应力氮化硅薄膜窗口
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多孔氮化硅窗口
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多孔氧化硅窗口
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LIFT-OUT系列窗口
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孔径单窗口
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特殊窗口
校准标样 AFM/STM >
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AFM/STM标样
测试样品 >
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AFM测试样品
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TERS测试样品
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SNOM测试样品
基底 >
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HOPG高序石墨
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金属基底
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云母
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硅片
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二硫化钼
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PET膜
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玻碳电极
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2D材料
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氧化镁基板
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聚合物薄膜
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蓝宝石基板
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表面化学修饰
电镜校正标准样品 >
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扫描电镜标样
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透射电镜标样
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元素分析标样
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微米球
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FIB标样
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计算指南
轮廓仪校准标样 >
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光学轮廓仪校准标样
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台阶仪校准标样
单壁碳纳米管 >
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单壁碳纳米管
材料/生物制样用品
粘连用品 >
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导电胶
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导电胶带
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导电胶垫
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导电胶盘
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导电片
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导电漆
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导电胶标签
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导电涂料
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高真空胶
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非导电胶带
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其他导电粘连用品
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非导电粘连用品
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去胶用品
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热镶树脂
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镶嵌模具
研磨 >
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磨杯
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金刚石垫
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研磨附件
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MD-研磨
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碳化硅砂纸（背底PET薄膜）
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碳化硅砂纸
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磨石
抛光 >
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氧化铝
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金刚石喷雾剂
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金刚石棒
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金刚石悬浮液
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润滑剂
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二氧化硅
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布和薄膜
其他 >
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电解液
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常规用途
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无损检测
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制备底盘
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TargetSystem耗材
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ViaKit 耗材
钻石刀 >
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超薄切片钻石刀
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半薄组织切片钻石刀
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工业材料钻石刀
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AFM钻石刀
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钻石修块刀20°-90°
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钻石刀清洁
材料制样用品 >
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溅射用品
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切割耗材
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生物包埋试剂
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固定染色试剂
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包埋模具及支架
工业材料显微镜 >
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Leica显微镜
金相制样 >
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切割
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镶嵌
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磨抛
AFM-热学/电学/光学/配件
AFM >
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便携式AFM
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教学型AFM
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研究级AFM
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工业级AFM
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锁相放大器
AFM-热学 >
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SThM扫描热学显微镜
AFM-光学 >
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光诱导力显微镜
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近场光学/共聚焦拉曼显微镜
AFM-电学 >
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sMIM微波近场显微镜
AFM-In-SEM >
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SEM电镜兼容原子力显微镜
AFM 配件/升级/维修 >
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AFM配件
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维修
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AFM升级
纳米压印/光刻配件耗材
纳米压印模板 >
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光栅模板
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柱状模板
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孔状模板
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特殊结构
光刻掩模版 >
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掩模版定制
表面处理 >
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模板防粘
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防粘试剂
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防粘处理烘箱
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HMDS
纳米压印胶 >
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软膜板胶
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高折射率胶
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UV压印胶
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热压印胶
光刻胶 >
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SU-8胶
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正性光刻胶
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负性光刻胶
去胶显影 >
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剥离液
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显影液
电镀 >
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霍尔槽
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无氰Ag电镀液
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无氰Au电镀液
衬底 >
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硅片
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玻璃片
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石英片
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蓝宝石片
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ITO片
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GaAs
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AlN
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GaN
高纯靶材 >
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圆盘靶材
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环形靶材
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颗粒靶材
辅助设备 >
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匀胶机
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烘箱
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热板
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吹尘枪
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氮气柜
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烤胶机
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提拉机
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紫外臭氧清洗机
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电解双喷仪
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电解双喷仪配件
加工设备 >
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纳米压印机
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激光直写
硅片 >
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小尺寸硅片
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4寸硅片
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6寸硅片
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12寸硅片
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8寸硅片
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非掺杂硅片
光学平台/AFM周边仪器
隔振平台 >
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主动桌面式
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主动台桌式
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被动气浮台桌式
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被动蜂窝气浮台桌式
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超薄贴地型隔振系统
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Hysitron压痕仪
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压头
台阶仪耗材 >
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台阶仪探针
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台阶仪校准标样
探针台配件及耗材 >
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直流探针
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射频探针
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有源探针
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校准基片
纳米力学测试系统 >
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Femtotools探针及其他耗材
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纳米操作系统
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微纳牛力传感器
Filmetrics膜厚测试仪 >
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单点厚度测量
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微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量
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自动厚度测量系统
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在线厚度测试系统
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附件
轮廓仪 >
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光学轮廓仪
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探针式轮廓仪
实验室通用配件耗材
清洁 >
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无尘纸
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封口膜
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清洁布
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无尘布
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棉签
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容器
过滤配件耗材 >
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AAO膜
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无机氧化铝
|
过滤器支架
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银Ag膜
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聚碳酸酯膜
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阳极氧化铝各向异性膜
|
阳极氧化铝各向同性膜
|
镀金聚碳酸酯膜
|
Vitrobot专用滤纸
身体防护 >
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围裙
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口罩
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手套
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条形帽
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鞋套
样品存储盒 >
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高弹膜盒
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硅片盒
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自吸附盒
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扫描电镜样品盒
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透射电镜样品盒
镊子 >
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经济型镊子
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高精度镊子
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AFM探针镊子
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样品台镊子
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防静电镊子
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生物级镊子
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涂层镊子
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特殊材质镊子
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塑料镊子
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其他镊子
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Dumont 杜蒙镊子
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晶片镊子
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StudenTek镊子
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Vitrobot专用镊子
SERS衬底 >
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拉曼增强试剂
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SERS芯片基底
防静电用品 >
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防静电手套
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防静电腕带
纳米节能抗菌负氧新材料 >
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台式电源
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数字源表
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数字光衰减器
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超声波破碎仪
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精密天平
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单道
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多道
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手持式数码显微镜
电化学 >
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微波超声萃取仪
真空泵 >
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同步辐射光学配件
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SiC膜片
X射线图 >
EUV/XUV反射镜 >
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XUV高反镜
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XUV窄带镜
半导体相关
半导体测试 >
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半导体检测分析
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半导体高分辨X射线衍射
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光学检测分析
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表面及薄膜成分分析
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SPM及半导体
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TEM及半导体
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纳米压印胶
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光刻胶
半导体设备 >
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隔振平台
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源表/参数分析仪
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保存/干燥箱/氮气柜
分子诊疗试剂
纳米节能抗菌负氧新材料
纳米节能抗菌负氧新材料 >
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节能材料
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灭菌材料
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负氧材料
微纳产品中心
表面分析 >
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便携式AFM原子力显微镜
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小样品AFM原子力显微镜
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大样品AFM原子力显微镜
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全自动AFM原子力显微镜
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生物型AFM原子力显微镜
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光诱导力原子力显微镜
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扫描热学原子力显微镜
|
扫描微波阻抗原子力显微镜
|
AFM In-SEM原子力显微镜
|
探针式轮廓仪D系列台阶仪
|
探针式轮廓仪P系列台阶仪
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光学轮廓仪Zeta系列光学轮廓仪
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光学轮廓仪白光干涉仪
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膜厚仪单点厚度测量
|
膜厚仪微米（显微）级光斑尺度厚度测量
|
膜厚仪自动厚度测量系统
|
膜厚仪在线厚度测量系统
|
膜厚仪椭偏仪
|
膜厚仪棱镜耦合仪
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表面等离子共振仪共振显微镜
|
表面等离子共振仪共振仪
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表面缺陷检测仪
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极低温恒温器
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晶圆拉曼光谱测试系统
力学表征 >
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微纳米压痕仪
|
微纳米拉伸仪
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微纳米力学测试/操纵
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In-SEM微纳米力学原位拉伸台
|
In-SEM微纳米力学纳米操作机
|
In-SEM微纳米力学纳米压痕
|
硬度计
电学表征 >
|
方块电阻测试仪
|
探针台小型研发台
|
探针台手动探针台
|
半自动探针台
|
示波器分析仪
|
矢量网络分析仪
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频谱分析仪
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功率分析仪
|
参数分析仪
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误码率测试仪
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相干光信号分析仪
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频率计数器分析仪
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分析仪配件
In-Situ原位测试 >
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AFM-In-SEM原子力显微镜
|
In-SEM纳米压痕
|
In-SEM纳米压痕纳米操作机
|
原位加热和电化学原位芯片及Holder
|
原位拉伸
|
阴极荧光系统
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电镜样品清洗机
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原位等离子清洗杆
微纳加工 >
|
纳米压印机
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等离子设备
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激光制样
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激光直写光刻机
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沉积设备
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刻蚀设备
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电子束曝光
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聚合物笔印刷
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激光干涉光刻机
|
无掩膜光刻机
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ALD
微纳米辅助设备 >
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粒度分析
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等离子清洗机
|
紫外臭氧清洗机
|
隔音隔震被动隔震台
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